Reliability, packaging, testing and characterization of MEMS/MOEMS IV - 24-25 January 2005, San Jose, California, USA

Författare
(Danelle M. Tanner, Rajeshuni Ramesham, chairs/editors)
Genre
Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 2005 USA 220 sidor. 0-8194-5690-X